Reflexionen

Reflexionen werden in LIMA mittels "Spiegelschallquellen" und gespiegelter Hindernisse berechnet. Es wird bis zur maximal 10-fachen Reflexion gerechnet. Zur Einschränkung des Rechenaufwandes wird ein Einfangradius für die zu berücksichtigenden Reflektoren definiert, der sich auf die Umgebung der Quellen und des Aufpunktes bezieht. Durch den Automatismus wird ein hohes Maß an Kontinuität erreicht.
Um mögliche Reflexionen zu ermitteln, werden die gefundenen Reflektoren n-fach kombiniert. Damit können auch Reflexionen erfaßt werden, bei denen einzelne Reflektoren übergangen werden. Die Berechnung berücksichtigt geneigte Ober- bzw. Unterkanten von Reflektoren.
Die Spiegelquelle wird ihrerseits wieder entprechend dem "Projektionsverfahren" unterteilt. Dabei ergibt sich automatisch der Bereich einer Linienquelle, der tatsächlich Reflexionsanteile am Aufpunkt liefert. Die Ergebnisse sind deshalb kontinuierlich und hängen nicht etwa von der Art der digitalisierten Abschnittslänge ab.
Das Bild 02 zeigt die ermittelte wirksame Abschnittslänge eines Emittenten bei 3-fach Reflexion.


Reflections

Reflections

To calculate the effect of reflections, LIMA first creates a virtual emitter and obstacle constellation by mirroring the ambient situation in accordance with the reflector combination under consideration. Reflection can be calculated up to the 10th order. It is a further advantage of the "method of projection" that LIMA will analyse that part of the reflected emitting line which actually contributes to the noise level of the receiver.
To reduce the amount of calculation the user defines a maximum range around the emitters and any receiver point within which reflectors are searched for. These reflectors are then combined in any possible order. Thus any reflectors positioned behind other reflectors or obstacles will not produce any problems to LIMA.
Reflectors may possess sloping upper and lower edges and may even be situated on bridges. Both sides of a reflector may have different reflectance.
Figure 02 shows the analysed part of an emitter that contributes to the noise level on the backward facade via a 3-fold reflection.